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測(cè)定晶體物質(zhì)的熔點(diǎn)以確定其純度。主要用于藥物、染料、香料等晶體有機(jī)化合物熔點(diǎn)之測(cè)定。光電檢測(cè)，大屏幕背光液晶顯示，數(shù)字鍵盤(pán)輸入，屏幕直接顯示熔化曲線(xiàn)。

熔點(diǎn)測(cè)量范圍：室溫至300°C 溫度顯示Z小示值：0.1°C 線(xiàn)性升溫速率：0.2-5(°C/min)

熔點(diǎn)測(cè)量范圍：40°C-280°C 溫度顯示Z小示值：0.1°C 線(xiàn)性升溫速率：0.5，1，1.5，3(°C/min)

線(xiàn)性升溫速率：0.2 ℃/min， 1℃/min，1.5℃/min， 3℃/min， 示值誤差：小于200 ℃ 范圍內(nèi)：±0.5 ℃ 200 ℃ -300℃ 范圍內(nèi)：±0.8 ℃

1.熔點(diǎn)測(cè)量范圍： 室溫～400℃ 2.“起始溫度”設(shè)定時(shí)間：50℃～400℃ 不大于5min 400℃～50℃ 不大于7min